01. 鐵電參數測試功能
動態電滯回線測試頻率
靜態電滯回錢測試
脈沖測試
疲勞測試
保持力
印跡
漏電流測試
變溫測試功能
02. 絕緣電阻測試功能
高準確度的電壓輸出與電流測量，確保測試的品質，適用于功能材料在高溫環境材料的數據的檢測。例如：陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。
03. 電參數測試功能
可進行壓電陶瓷的唯靜態d33等參數測試，也可通過高壓放均由位移傳感器（如勘怪 干涉儀）動態法測量壓電系數測量。
04. 高溫四探針測試功能
符合功能材料導體、半導體材料與其他新材料在高溫環境下測試多樣化的需求。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國標并參考美標A.S.T.M，也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
05. 熱釋電測試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。薄膜材料變溫范圍：－196℃~＋600℃；塊體材料變溫范圍：室溫~200℃、室溫 ~600℃、室溫~800°C。
06. 介電溫譜測試功能
用于分析寬頻、高低溫環境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，同時還可以分析被測樣晶隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。
07. 塞貝克系數／電阻測量系統
適用于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析；可根據用戶需求配置薄膜測量選件，低溫選件溫度范圍-100℃ ~200℃，高阻選件高至10MΩ。
08. 電卡效應測試功能
可以用于測試材料，在寬溫度范圍內的電卡性能。
溫度范圍：-50℃~200℃；
熱流時間范圍：1s-1000s；
電壓可達10kV；
波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形。
09. 熱激發極化電流測試儀TSDC
用于研究功能材料性能的一些關鍵因素，諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。
配置
01. 鐵電分析儀、高壓放大器、剎試夾具、系統控制器、測試夾具、位移傳感器、高低溫環境組合可實現功能材料的鐵電性能、壓電性能、熱釋電性能測試、熱激發極化電流測試儀TSDC等功能測試。
02. 高低溫環境可配冷熱臺、高低溫試驗箱或近紅外高溫爐。
03. 阻抗分析儀配合高低溫環境箱、冷熱臺或近紅外高溫爐，可實現材料的介電溫譜與頻譜測量。
04. 高阻計配合高低溫環境箱、冷熱臺或近紅外高溫爐，可測量材料高低溫下的電阻、電阻率、電阻譜等參數。
05. 低電阻表配合高低溫環境箱、冷熱臺或近紅外高溫爐，可測量材料高低溫下的電阻、電阻率、電阻譜等參數。
06. 源表配合高低溫環境箱、冷熱臺或近紅外高溫爐，可測量材料高低溫下半導體材料的導電性能。
源表、紅外高溫爐與系統控制器組合，可實現對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。塞貝克系數和電阻都可以用一種儀器來測量。
07. 系統控制器用于冷熱臺或高低溫試驗箱、近紅外反射爐的溫度控制；各種電壓、電流、開關量及位移信號的采集。
08. 高壓極化電源用于壓電陶瓷及壓電薄膜材料的極化、材料擊穿、也可用于陶瓷閃燒等試驗。
09. 力學原位加載裝置用于壓電陶瓷材料原位加載等參數測試分析。
用戶可根據自已的需求選擇不同的配置。
產品優勢
01.擴展優勢
本套系統可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試，以及高、低溫環境下的電學測試。與電學檢測儀器在通訊協議、數據庫處理和軟件兼容性上做了大量的接口。 無論是在軟件方面還是硬件方面，皆使本套儀器在未來更易于擴展，更加節省改造時間與硬件成本。
02.性能優勢
華測儀器依托多年高壓控制、測試方面多年的技術成果：增加TVS保護過壓、過流、過溫等技術，更加可靠。軟件設計：在測試功能、數據處理、操作等更加人性化方面做了大量的改進；測量精度：與其它儀器做了大量的測試對標，與計量院通力合作；進行檢測計量。確保數據的有效與真實。
03.研發優勢
研發團隊擁有多領域、多學科的博士、碩士技術人員，他們致力于材料電學、電力電子、信號、測控、精加工方面的研究，并且是掌握材料電學檢測技術的科研團隊！自成立以來獲多方科研機構、大學試驗室支待，聘請多個知名院校的教授，組建 “華測儀器顧問團”。
04.定制化服務
電學試驗室擁有泰克、是德科技等國外大批檢測設備；生產制造方面，公司有4軸、5軸CNC加工地、超精磨床等一大批生產、加工設備，在工裝、夾具定制化方面更加方便。
應用領域
鐵電材料、電子陶瓷、熱釋電、薄膜、科學研究、材料開發、工業生產以及器件測試電子、電氣、能源等行業。
